掃描電子顯微鏡是1965年發(fā)明的較現(xiàn)代的細(xì)胞生物學(xué)研究工具，主要是利用二次電子信號(hào)成像來(lái)觀(guān)察樣品的表面形態(tài)，即用極狹窄的電子束去掃描樣品，通過(guò)電子束與樣品的相互作用產(chǎn)生各種效應(yīng)，其中主要是樣品的二次電子發(fā)射。二次電子能夠產(chǎn)生樣品表面放大的形貌像，這個(gè)像是在樣品被掃描時(shí)按時(shí)序建立起來(lái)的，即使用逐點(diǎn)成像的方法獲得放大像。
掃描式電鏡的電子槍和聚光鏡與透射式電鏡的大致相同，但是為了使電子束更細(xì)，在聚光鏡下又增加了物鏡和消像散器；在物鏡內(nèi)部還裝有兩組互相垂直的掃描線(xiàn)圈。物鏡下面的樣品室內(nèi)裝有可以移動(dòng)、轉(zhuǎn)動(dòng)和傾斜的樣品臺(tái)。
由于掃描電子顯微鏡可用多種物理信號(hào)對(duì)樣品進(jìn)行綜合分析，并具有可以直接觀(guān)察較大試樣、放大倍數(shù)范圍寬和景深大等特點(diǎn)，當(dāng)陶瓷材料處于不同的外部條件和化學(xué)環(huán)境時(shí)，掃描電子顯微鏡在其微觀(guān)結(jié)構(gòu)分析研究方面同樣顯示出極大的優(yōu)勢(shì)。主要表現(xiàn)為：
⑴力學(xué)加載下的微觀(guān)動(dòng)態(tài)（裂紋擴(kuò)展）研究；
⑵加熱條件下的晶體合成、氣化、聚合反應(yīng)等研究；
⑶晶體生長(zhǎng)機(jī)理、生長(zhǎng)臺(tái)階、缺陷與位錯(cuò)的研究；
⑷成分的非均勻性、殼芯結(jié)構(gòu)、包裹結(jié)構(gòu)的研究；
⑸晶粒相成分在化學(xué)環(huán)境下差異性的研究等。
掃描電子顯微鏡設(shè)計(jì)使系統(tǒng)更靈活，更易用，體積緊湊、功能強(qiáng)大，即避免了復(fù)雜的系統(tǒng)維護(hù)和測(cè)試時(shí)間，同時(shí)又節(jié)省了制做樣品的高昂成本，因此也更具性?xún)r(jià)比。
